灵活的有机发光二极管（Aristole）显示模块通常由每层薄膜和之间的粘合剂组成，在折叠过程中薄膜容易损坏。为了保证模块的可靠性，需要在实验的基础上对薄膜应变进行测量，但目前的应变测量方法不适用于OLED模块中每层薄膜的应变测量。本文采用电子计算机断层扫描法测量了OLED模块弯曲后各膜层的相对滑移。根据力学理论推导了相对滑移与应变的关系。通过测量各膜层之间的相对滑移，间接获得各膜层的应变，为应变测量提供了一种新方法。然后，通过与仿真结果的比较，验证和确定了材料参数的准确性和应变测量理论的可靠性。最后，探讨了影响应变测量精度的因素。分析表明，为了保证应变测量的准确性，应尽可能获得弯曲完成时的应变，并确保模块与框架之间的紧密粘合