为了研究X分子筛的热稳定性，采用水热晶方法合成了纯相X分子筛。X分子筛分别在500600700800900氮气气氛下高温煅烧。采用X射线衍射、N2吸附-脱附、扫描电镜、热重分析、差示扫描量热法、固态核磁共振、和傅里叶变换红外光谱对X沸石及其热处理产物进行了表征。结果表明，当热处理温度低于800℃时，X分子筛的晶体结构和微孔的通道没有损坏，热处理产物仍保持八面体形态，晶体结构中的Si-O-Al连接保持稳定，没有形成非骨架铝物种。当热处理温度达到900时，X分子筛的晶体结构被熔化和破坏，并转化为光滑的无定形物种，微孔的孔隙体积减小到0。然而，热处理产品中没有明显的独立无定形铝物种，但仍有大量Si-O-Al和Si-O-Si连接。